首页
首页  >  网络快报

支持 LTE-A射频一致性测试安捷伦推出X系列测量软件

2014-03-04  来源:人民邮电报  作者:

 

    安捷伦科技公司日前推出最新的X系列测量应用软件,巩固了其在LTE-Advanced测量领域中的领导地位。该应用软件针对LTE-Advanced FDD和TDD发射机与元器件提供符合最新3GPP第11版标准的最全面的射频一致性测试。该测量应用软件既适用于台式测试仪表,也适用于模块化测试仪器。

    最新LTE-Advanced测量应用软件为Agilent X系列和模块化信号分析仪提供一键式测量。该应用软件测量速度快、操作简单,可进行 SCPI 编程、执行合格/不合格测试,是设计验证和生产制造的理想工具。该应用软件可在 LTE-Advanced发射机的连续和非连续配置下执行业内最全面的射频一致性测试。支持的测量包括:发射机输出功率测试、发射信号质量测试、基站和用户设备的多余辐射测量。

    该测量应用软件还针对带内非连续载波聚合提供累积ACLR(CACLR)和累积频谱辐射模板(SEM)测量。由于在标准中规定sub-block间隙中的频谱可额外部署,带内非连续载波聚合配置引入了多余辐射测量的特殊挑战,新增了CACLR要求和特殊的SEM测量模板。最新 LTE-Advanced测量应用软件是市场上唯一一款针对非连续载波聚合提供CACLR和特殊 SEM模板的解决方案。

关键词:

相关新闻